Medição de espessura de filmes eletrodepositados em suporte metálico por EDXRF

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Tipo do documento:	Dissertação
Título:	Medição de espessura de filmes eletrodepositados em suporte metálico por EDXRF
Título(s) alternativo(s):	Measurement of thickness of films electrodeposited on metal support by XRF
Autor:	Santos, Marcos Rogério Soares
Primeiro orientador:	Assis, Joaquim Teixeira de
Primeiro membro da banca:	Andrade, Mônica Calixto de
Segundo membro da banca:	Pessôa, José Renato de Castro
Terceiro membro da banca:	Paschuk, Sergei Anatolyevich
Quarto membro da banca:	Philippov, Sergey
Resumo:	Esse trabalho apresenta a técnica de fluorescência de raios X por dispersão de energia (EDXRF) para calcular a espessura de filmes metálicos finos por ser de custo relativamente baixo, não destrutiva e que permite também uma análise qualitativa e até quantitativa dos elementos do revestimento. As espessuras do Níquel, Zinco e Cromo sobre aço, foram calculadas utilizando cinco procedimentos diferentes e todas as relações matemáticas obtidas foram baseadas na lei de atenuação de Beer-Lambert, que relaciona as intensidades Kα e/ou Kβ e as relações específicas do material (coeficiente de atenuação, μm). Os resultados experimentais para as espessuras do Zinco e Níquel, utilizando somente a intensidade Kα, apresentaram valores próximos dos valores estimados. Quando foi considerada a razão Kα/Kβ, os resultados experimentais divergiram bastante do estimado. Para calcular a espessura do Cromo foi necessário utilizar um método em que as camadas são calculadas separadamente, pois o revestimento de Cromo é composto por múltiplas camadas (Cromo, Cobre e Níquel), Os resultados para a espessura do Cromo foram satisfatórios.
Abstract:	This paper presents the energy dispersive of X-ray fluorescence ( EDXRF ) technique to calculate the thickness of thin metallic films to be relatively low-cost , non-destructive and also allows a qualitative and quantitative elements to the coating. The thicknesses of nickel , zinc and chromium on steel were calculated using five different procedures and all mathematical relationships were obtained based on Beer- Lambert attenuation law, which lists the Kα intensities and / or Kβ and unique material relations ( attenuation coefficient , μm). The experimental results for the thickness of the zinc and nickel , using only the intensity Kα, showed values close to the values estimated. When was considered the reason Kα / Kβ, experimental results diverged quite the estimate. The thickness of chrome due multiple layers (chromium, copper and nickel ), required another method in which the layers are separately calculated. The results for the thickness of the chromium has been satisfactory.
Palavras-chave:	EDXRF Galvanoplasty Thickness Thin Films EDXRF Galvanoplastia Espessura de revestimento metálico Filmes metálicos Eletrodeposição Fluorescencia de raio X
Área(s) do CNPq:	CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA DE MATERIAIS E METALURGICA
Idioma:	por
País:	BR
Instituição:	Universidade do Estado do Rio de Janeiro
Sigla da instituição:	UERJ
Departamento:	Centro de Tecnologia e Ciências::Instituto Politécnico
Programa:	Programa de Pós-Graduação em Ciência e Tecnologia de Materiais (IPRJ)
Citação:	SANTOS, Marcos Rogério Soares. Medição de espessura de filmes eletrodepositados em suporte metálico por EDXRF. 2013. 63 f. Dissertação (Mestrado em Materiais não-metálicos; Física e mecânica dos materiais) - Universidade do Estado do Rio de Janeiro, Nova Friburgo, 2013.
Tipo de acesso:	Acesso Aberto
URI:	http://www.bdtd.uerj.br/handle/1/8001
Data de defesa:	6-Nov-2013
Aparece nas coleções:	Mestrado em Ciência e Tecnologia de Materiais (IPRJ)

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