Uso da técnica de EDXRF na análise de gemas semi preciosas brasileiras

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Tipo do documento:	Dissertação
Título:	Uso da técnica de EDXRF na análise de gemas semi preciosas brasileiras
Título(s) alternativo(s):	Use of the EDXRF technique in the analysis of semiprecious Brazilian Gems
Autor:	Rezier, Ayxa Nara de Souza
Primeiro orientador:	Assis, Joaquim Teixeira de
Primeiro membro da banca:	Carvalho, Gil de
Segundo membro da banca:	Brunetti, Antônio
Terceiro membro da banca:	Oliveira, Carlos Ivan Ribeiro de
Quarto membro da banca:	Geraldes, Mauro Cesar
Resumo:	O Brasil é um dos maiores e mais importantes produtores de gemas do planeta, além de destacar-se pela qualidade e variedade gemológica. Possui um amplo e diversificado cenário produtivo abrangendo principalmente o mercado externo, tendo como principais setores de consumo a joalheria e a indústria de lapidação, além de uma ampla gama de utilização nas indústrias eletrônica, siderúrgica, elétrica, óptica, instrumentação, artesanato e agricultura. Com o avanço tecnológico, os estudos e pesquisas mineralógicos são de extrema importância para o entendimento das propriedades físico-químicas, a identificação e a caracterização química e estrutural das gemas, pois o emprego das gemas na indústria é função da sua composição elementar. No projeto desenvolvido, foram realizadas caracterizações elementares em amostras de algumas gemas brasileiras mediante a utilização da técnica de Fluorescência de Raios X por Dispersão em Energia (EDXRF). A determinação qualitativa de elementos teve como objetivo principal de analisar e verificar possíveis presenças de elementos e impurezas que não fazem parte da composição elementar pertencente à classe dos silicatos e carbonatos. As análises foram realizadas em dois equipamentos portáteis diferentes, o mini-XRF da Amptek® e o ARTAX 200 da Bruker®, com programas de aquisição e análise dos dados desses fabricantes. Os minerais analisados foram: Ametista, Calcita laranja, Ônix, Jade, Citrino, Quartzo incolor, Quartzo leitoso, Quartzo azul, Quartzo verde e Quartzo rosa. Verificou-se a existência de íons metálicos, em especial metais de transição como Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni e Cu. As possíveis razões para a existência destes íons são discutidas no trabalho. Os dados das análises elementares por EDXRF indicam coerência nas composições elementares obtidos com os dois sistemas portáteis de XRF e observa-se que ambos apresentam eficiência em relação aos elementos analisados, indicando que a técnica pode ser utilizada para auxiliar no desenvolvimento de estudos mineralógicos.
Abstract:	Brazil is one of the largest and most important producers of gemstones on the planet, besides being distinguished by the quality and gemological variety. It has a wide and diversified production scenario covering mainly the foreign market, with the main consumer sectors being jewelery and the stoning industry, as well as a wide range of use in the electronics, steel, electrical, optics, instrumentation, handicrafts and agriculture industries. With the technological advance, mineralogical studies and research are extremely important for the understanding of physicochemical properties, identification and chemical and structural characterization of gemstones, since the use of gemstones in industry is a function of their elemental composition. In the developed project, elemental characterizations were performed in samples of some Brazilian gems using the Energy Dispersion X-Ray Fluorescence technique (EDXRF). The qualitative determination of elements had as main objective to analyze and verify possible presence of elements and impurities that are not part of the elemental composition belonging to the class of silicates and carbonates. The analyzes were performed on two different portable devices, the Amptek mini mini-XRF and the Bruker AR ARTAX 200, with data acquisition and analysis programs from these manufacturers. The minerals analyzed were: Amethyst, Orange Calcite, Onyx, Jade, Citrine, Colorless Quartz, Milky Quartz, Blue Quartz, Green Quartz and Pink Quartz. The presence of metallic ions, in particular transition metals such as Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni and Cu were verified. The possible reasons for the existence of these ions are discussed in the paper. The data of elemental analyzes by EDXRF indicate coherence in the elemental compositions obtained with the two portable systems of XRF and it is observed that both present efficiency in relation to the elements analyzed, indicating that the technique can be used to assist in the development of mineralogical studies.
Palavras-chave:	Fluorescence XRF Gems X-Ray Characterization Fluorescência XRF Raios X Caracterização Pedras preciosas Gemas (Mineralogia)
Área(s) do CNPq:	CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA NUCLEAR::APLICACOES DE RADIOISOTOPOS
Idioma:	por
País:	BR
Instituição:	Universidade do Estado do Rio de Janeiro
Sigla da instituição:	UERJ
Departamento:	Centro de Tecnologia e Ciências::Instituto Politécnico
Programa:	Programa de Pós-Graduação em Ciência e Tecnologia de Materiais (IPRJ)
Citação:	REZIER, Ayxa Nara de Souza. Uso da técnica de EDXRF na análise de gemas semi preciosas brasileiras. 2017. 114 f. Dissertação (Mestrado em Materiais não-metálicos; Física e mecânica dos materiais) - Universidade do Estado do Rio de Janeiro, Nova Friburgo, 2017.
Tipo de acesso:	Acesso Aberto
URI:	http://www.bdtd.uerj.br/handle/1/8041
Data de defesa:	16-Out-2017
Aparece nas coleções:	Mestrado em Ciência e Tecnologia de Materiais (IPRJ)

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Dissertacao_AyxaNaraDeSouzaRezier.pdf	2,79 MB	Adobe PDF	Baixar/Abrir Pré-Visualizar ×

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